基于LabVIEW的电容近炸引信综合参数测试系统的研究

被引：6

作者：

程顺

贾永红

刘志

机构：

[1] 北京理工大学机电工程学院

[2] 北京理工大学机电工程学院北京

[3] 北京

来源：

探测与控制学报 | 2003年 / S1期

关键词：

电容近炸引信; 参数测试; LabVIEW;

D O I：

暂无

中图分类号：

TJ434.1 [];

学科分类号：

082601 ;

摘要：

电容近炸引信的信号处理电路动态性能参数测试是产品研制、调试、生产的重要环节。研究了利用计算机、信号调理板、数据采集板和在 Lab VIEW平台上开发的软件构成一套完整的电容近炸引信综合参数测试系统。该测试系统针对电容近炸引信的检波放大信号、积分信号、微分信号和启动信号等技术指标进行测试和分析 ,从而判断电路工作情况 ,并给出有故障电路的故障原因。该系统有测试精度高、开发成本低、检测效率高、操作简单等优点

引用

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共 5 条

[1] LabVIEW与通用数据采集卡的接口方法研究 [J].