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利用电解质渗出率方法测定梨的耐寒性
被引:55
作者:
孙秉钧
黄礼森
李树玲
蒲富慎
机构:
[1] 中国农业科学院果树研究所
来源:
关键词:
梨;
抗寒性;
电导法;
电解质渗出率;
致死临界温度;
D O I:
10.16626/j.cnki.issn1000-8047.1987.01.006
中图分类号:
学科分类号:
摘要:
本试验采用以生物膜学说为依据的电导法,测定经连续梯度降温处理的和蒸汽杀死后的梨一年生枝条电导率,换算成电解质渗出百分率,从所得数值找出质膜透性的变化规律,以寻求检测梨树耐寒性的方法。为验证其准确性,将各处理材料分出部分进行插枝水培,以观察其发芽情况和内部变化。观察结果与测得的生理指标相一致,从而表明应用电解质渗出率的计量单位测定梨的耐寒性,是一个简易可靠的方法。
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