玉米秆表面的研究分析

被引：2

作者：

陈桂华 ^{[1
]}

姚斌 ^{[2
]}

向仕龙 ^{[1
]}

刘碧华 ^{[1
]}

机构：

[1] 中南林业科技大学

[2] 湖南省质量技术监督局

来源：

林产工业 | 2007年 / 06期

关键词：

玉米秆; 表面分析; 扫描电镜—X射线能谱分析;

D O I：

10.19531/j.issn1001-5299.2007.06.007

中图分类号：

S513 [玉米（玉蜀黍）];

学科分类号：

摘要：

借助扫描电子显微镜和X射线能谱仪(SEM-EDAX)对玉米秆表面进行分析,结果表明:玉米秆表面较为平滑、致密,除H外,主要由C、O、Si三种元素组成,含Si量高达30%,其表面零星分布的块状物和棒状物则有较高的S和K含量。

引用

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页数：3

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