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亚微米/深亚微米的栅氧清洗技术
被引:4
作者
:
徐政
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机构:
中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所江苏无锡,江苏无锡,江苏无锡
徐政
郑若成
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机构:
中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所江苏无锡,江苏无锡,江苏无锡
郑若成
何磊
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机构:
中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所江苏无锡,江苏无锡,江苏无锡
何磊
机构
:
[1]
中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所,中国电子科技集团公司第研究所江苏无锡,江苏无锡,江苏无锡
来源
:
电子与封装
|
2003年
/ 03期
关键词
:
清洗;
兆声;
颗粒;
ZETA电势;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN305.99 [其他];
学科分类号
:
080508
[光电信息材料与器件]
;
摘要
:
栅氧前清洗是栅氧工艺的重要部分,本文介绍二种适用于亚微米/深亚微米的清洗工艺: 采用稀释化学试剂和兆声波清洗的VCS清洗工艺和IMEC清洗工艺。
引用
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页码:36 / 39
页数:4
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