分形几何及其在磁盘表面形貌分析中的应用

被引：4

作者：

夏学军

谭庆昌

机构：

[1] 吉林大学机械科学与工程学院

[2] 吉林大学机械科学与工程学院吉林长春

[3] 吉林长春

来源：

吉林工业大学学报(工学版) | 2002年 / 02期

关键词：

分形几何; 表面形貌; 接触状态; 磁盘;

D O I：

暂无

中图分类号：

O189.3 [解析拓扑学];

学科分类号：

070302 [分析化学];

摘要：

以硬盘表面形貌分析为例 ,分别介绍了使用功率谱和结构函数获取分形参数的方法 ,并对测量尺度的取值范围作了探讨。实验结果表明 ,分形维数能很好地表征表面轮廓 ,可为进一步的接触分析提供更合理的几何模型

引用

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页数：5

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