多路CCD成像不均匀性校正算法

被引：7

作者：

刘畅 ^{[1
]}

李绘卓 ^{[1
]}

范勇 ^{[1
]}

唐遵烈 ^{[2
]}

机构：

[1] 西南科技大学计算机科学与技术学院

[2] 中国电子科技集团公司第四十四研究所

来源：

光电工程 | 2009年 / 36卷 / 03期

关键词：

多路CCD成像; 不均匀性校正; 场景; 两点校正;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.41 [];

学科分类号：

080203 ;

摘要：

在多路CCD成像中,每路图像之间存在不均匀性,造成这种不均匀性的因素十分复杂,常规算法常无法将所有因素都考虑,影响了校正效果。根据图像的非均匀性特征,论文提出了一种基于场景的,采用两点校正理论,利用每路图像之间的线性关系来进行校正的方法,与传统两点校正算法和多点校正算法校正结果进行对比,给出了对比实验的校正结果。这种算法不需要标准辐射图像就可对多路CCD图像进行实时校正。为多CCD成像系统校正提供了一种有效的方法。

引用

页码：120 / 124

页数：5

共 4 条

[1] 一种考虑红外焦平面器件非线性响应的非均匀性校正方法 [J].