基于遗传优化算法的二维漏磁缺陷重构

被引：9

作者：

韩文花

阙沛文

机构：

[1] 上海交通大学自动检测研究所

来源：

中国石油大学学报(自然科学版) | 2006年 / 01期

关键词：

逆问题; 径向基函数; 神经网络; 遗传算法; 漏磁检测;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM271 [磁性材料、铁磁材料];

学科分类号：

摘要：

信号逆问题,即从测量信号中恢复出缺陷轮廓及其参数,是漏磁无损评估中的一个重要课题。提出了一种基于遗传算法的逆算法,用于从漏磁信号中重构二维缺陷。在该算法中,径向基函数(RBF)神经网络用作前向模型,遗传算法用于求解逆问题中的优化问题,其优点是能够避免基于梯度下降法的迭代逆算法中可能遇到的局部最小问题,并能得到逆问题的全局最优解。实验结果验证了所提出的逆算法的有效性。

引用

页码：138 / 141

页数：4

共 8 条

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