红外焦平面器件盲元检测及补偿算法

被引：46

作者：

周慧鑫

殷世民

刘上乾

赖睿

机构：

[1] 西安电子科技大学技术物理学院,西安电子科技大学技术物理学院,西安电子科技大学技术物理学院,西安电子科技大学技术物理学院西安,西安,西安,西安

来源：

关键词：

红外焦平面阵列; 盲元; 红外成像; 自动检测; 插值补偿;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN214 [红外光学器件];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

在分析盲元响应特性的基础上 ,利用红外焦平面阵列对双参考辐射源的响应数据和相邻像元成像数据的相关性 ,提出了一种基于双参考辐射源的盲元现场自动检测和插值补偿算法 ,实现了盲元的自动检测和校正实验结果表明 :该方法具有对盲元查找速度快、定位准确率高、补偿效果好及易于软硬件实现等特点

引用

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