共 4 条
特征X射线能谱法测定Fe+注入小麦种子的深度
被引:7
作者:
颉红梅
卫增泉
李文建
机构:
[1] 中国科学院近代物理研究所
来源:
关键词:
小麦,离子注入,扫描电镜,X射线能谱分析;
D O I:
暂无
中图分类号:
TL271.7 [];
学科分类号:
摘要:
用110keVFe+离子束垂直注入小麦种胚后,在扫描电子显微镜上沿种子纵沟剖面,在不同深度上测量Fe元素被激发出的特征X射线强度分布。结果表明分布呈指数衰减,与晶体中的热扩散分布相类似,并对此进行了讨论。
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页数:4
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