金银铂及首饰物的无损检测

被引：9

作者：

陈永君，邓赛文，梁国立

机构：

[1] 地矿部岩矿测试技术研究所

来源：

岩矿测试 | 1994年 / 02期

关键词：

X射线荧光光谱，金，银，铂，首饰物，无损检测;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.1994.02.016

中图分类号：

O614.123.5 [];

学科分类号：

070301 ; 081704 ;

摘要：

使用Ｘ射线荧光光谱仪，采用透空照射、数学校正法并与比重法联用，可无损检测金、银、铂及饰物的成色，判别包、镀金饰品，较好地校正了饰物的形状、面积和光洁度的影响，不受宝石镶嵌物的限制，能够提供金、银、铂及饰物的成色和杂质元素的配比数据。用该法测定２４Ｋ及１４Ｋ值饰品的ＲＳＤ（ｎ＝９）分别为０．０１％和０．８２％，测定范围在１％～１００％之间。

引用

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