硫酸钙晶须表面性质及水化机理研究

被引：16

作者：

王宇斌 ^{[1
]}

袁致涛 ^{[1
]}

韩跃新 ^{[1
]}

马正先 ^{[2
]}

机构：

[1] 东北大学

[2] 辽宁工程技术大学

来源：

关键词：

硫酸钙晶须; 表面性质; 表面结构; 水化机理;

D O I：

10.16283/j.cnki.hgkwyjg.2008.06.001

中图分类号：

O611.3 [性质];

学科分类号：

070301 ; 081704 ;

摘要：

采用SEM、FTIR、XRD和XPS等测试方法对硫酸钙晶须的表面性质和表面结构等进行了表征,结果表明:不同硫酸钙晶须表面的钙离子活性不同,晶须表面的活性点钙离子、羟基和晶须内部的孔道是硫酸钙晶须发生水化的主要原因。硫酸钙晶须稳定化处理的关键在于覆盖其表面活性点和消除其内部孔道。

引用

页码：1 / 4+8 +8

页数：5

共 6 条

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