基于多信号模型的测试性分析方法研究

被引:14
作者
许辉
梁力
机构
[1] 中航工业第一飞机设计研究院
关键词
多信号模型; 测试性分析; 故障-测试依存矩阵;
D O I
10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2012.04.022
中图分类号
TJ06 [测试技术及设施];
学科分类号
摘要
多信号模型是一种简单而有效的建模表示方法,用于系统测试性分析、故障诊断等;在产品结构的基础上以分层有向图表示信号流向和各组成单元的连接关系,通过定义组成单元、信号、故障模式、测试等建立多信号模型,获取故障与测试之间的相关性来实现对产品的测试性分析;结合示例介绍了多信号模型的表示方法,给出故障-测试依存矩阵以及未检测故障、模糊组、冗余测试、隐藏故障、冒充故障、故障检测率和故障隔离率的具体分析过程和算法;算法分析结果与应用TADS软件分析结果相一致。
引用
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页码:914 / 916+920 +920
页数:4
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共 2 条
  • [1] 多信号模型在故障诊断中的应用
    何光进
    叶晓慧
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    [J]. 计算机测量与控制, 2009, 17 (01) : 25 - 27
  • [2] 系统测试性设计分析与验证[M]. 北京航空航天大学出版社 , 田仲, 2003