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扫描探针显微镜的最新技术进展及应用
被引:15
作者
:
赵清亮
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机构:
哈尔滨工业大学精密工程研究所!哈尔滨
赵清亮
王景贺
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机构:
哈尔滨工业大学精密工程研究所!哈尔滨
李旦
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机构:
董申
机构
:
[1]
哈尔滨工业大学精密工程研究所!哈尔滨
来源
:
电子显微学报
|
2000年
/ 01期
关键词
:
扫描探针显微镜;
原子力显微镜;
表面应用;
成像原理;
工作模式;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN16 [电子光学仪器];
学科分类号
:
0803 ;
080401 ;
摘要
:
本文在讨论SPM基本原理和应用的基础上,详细介绍了近期SPM的最新技术进展和成像模式以及拓展的应用领域,使我们能对SPM有一个全新的认识和了解,以便把它们更好地应用到研究领域中。
引用
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