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红外焦平面探测器的非均匀性与校准方法研究
被引:28
作者
:
胡晓梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
不详
胡晓梅
机构
:
[1]
不详
[2]
航天工业总公司津航技术物理研究所
[3]
不详
来源
:
红外与激光工程
|
1999年
/ 03期
关键词
:
红外焦平面阵列,非均匀性,校正,两点法,扩展两点法,高通滤波,神经网络;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN215 [红外探测、红外探测器];
学科分类号
:
摘要
:
红外焦平面成像系统是红外成像技术发展的趋势,文中研究了红外焦平面探测器本身参数的非均匀性和对焦平面红外成像系统中探测器非均匀性的校准机理,并介绍焦平面成像信息处理系统实现的基本技术路线。对目前国内外先进红外焦平面成像系统中普遍采用的两点温标校准法和扩展两点温标校准法进行了原理讨论。并阐述了国内外实验室里正处在起步阶段的其它非均匀性校准方法(如神经网络法和时域滤波法)。
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页数:4
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