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双门限恒虚警处理器的熵损耗
被引：1
作者：
陆林根
机构：
[1] 北京无线电测量研究所
来源：
关键词：
恒虚警检测器;
双门限;
参考单元;
损耗;
损失消耗;
处理器;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文把熵和熵损耗的概念应用于双门限恒虚警检测系统中,计算了秩二进积累(RQ)非参量检测器和单元平均值检测器输出端的熵和系统熵的损耗,并得出了这些检测器在熵损耗最小条件下的最佳门限。
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