基于蚁群算法的测试集优化

被引：10

作者：

俞龙江

彭喜源

彭宇

机构：

[1] 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系

来源：

电子学报 | 2003年 / 08期

关键词：

蚁群算法; 测试集优化; 故障诊断;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

摘要：

电路集成度和复杂度的不断增加使电路故障诊断变得愈加困难 .其中 ,测试集优化问题是电路故障诊断的关键问题之一 .本文以新颖的蚁群算法为基础 ,较好地解决了测试集的优化问题 ,并通过实验证明了该算法的良好性能 .

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页码：1178 / 1181

页数：4

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[1]

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[2]

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