GIS局部放电超高频信号的包络分析与缺陷识别

被引：69

作者：

李立学 ^{[1
]}

滕乐天 ^{[2
]}

黄成军 ^{[1
]}

曾奕 ^{[1
]}

江秀臣 ^{[1
]}

机构：

[1] 上海交通大学电气工程系

[2] 上海电力公司

来源：

高电压技术 | 2009年 / 35卷 / 02期

关键词：

GIS; 局部放电; 超高频; 包络检波; 缺陷; BP神经网络; 模式识别;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.2009.02.033

中图分类号：

TM595 [全封闭组合电器];

学科分类号：

摘要：

为实现GIS故障检测和缺陷识别,设计了超高频(UHF)包络检波电路和高速数据采集系统,并针对5种典型的GIS缺陷进行了缺陷模型的局部放电试验,获得了这5种典型缺陷的超高频包络信号数据。试验结果表明,同一缺陷模型所产生的局部放电包络信号时域特征大致相同,不同缺陷模型的包络形状不同。论文在此基础上提出了基于时域特征参数和BP神经网络的GIS缺陷模式识别方法。采用该方法后,试验数据缺陷模式识别正确率高达96%以上。

引用

页码：260 / 265

页数：6

共 9 条

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