用于电离层探测的单光栅高分辨率成像光谱仪光学系统研究

被引：7

作者：

于磊 ^{[1
,2
]}

王淑荣 ^{[1
]}

曲艺 ^{[1
]}

林冠宇 ^{[1
]}

张振铎 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

[2] 中国科学院研究生院

来源：

光学学报 | 2011年 / 31卷 / 07期

关键词：

光学设计; 成像光谱仪; 电离层; 超环面光栅; 像差校正;

D O I：

暂无

中图分类号：

O433.1 [光谱测量];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

为完善国内星载电离层成像光谱仪研究,设计了一种适用于120～180 nm波段探测的光学系统。根据探测目标特点,结合国外方案提出了以离轴抛物镜为物镜,超环面光栅为成像光谱系统的方案;为解决传统单光栅结构像差校正不均匀、空间分辨率低等缺点,结合光栅表面方程和光程函数方程进行了理论分析,获得了全波段像差纠正的处理方法;利用Matlab编程计算初始结构,并用Zemax设计优化,成功得到了F数为6.8,焦距为102.3 mm,具有良好空间分辨率和高光谱分辨率的星载电离层成像光谱仪系统。通过对结果进行分析可知,全系统的像差得到充分校正,全视场全波段调制传递函数值在0.7以上,光谱分辨率0.56 nm,满足设计指标要求,设计方法和设计结果合理可行。

引用

页码：134 / 141

页数：8

共 4 条

[1] 120～180nm星载远紫外电离层成像光谱仪光学系统设计与研究 [J].