直接转矩控制系统低速性能分析──转矩观测器问题

被引：5

作者：

严青，邓志华，张晓光，秦忆，王离九

机构：

[1] 华中理工大学

来源：

关键词：

转矩控制，死区，转矩，检测器;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.1996.03.005

中图分类号：

TM301.2 [电机的控制];

学科分类号：

080801 ;

摘要：

低速性能是直接转矩控制（ＤＴＣ）方法的瓶颈。通过对转矩观测问题的详尽分析，从数学上推导出ＤＴＣ系统中由逆变器延时效应引入的磁通偏差和转矩偏差，分析了它们给ＤＴＣ系统带来的影响，并给出了系统的计算机仿真结果。理论分析与系统仿真结果一致表明死区效应是ＤＴＣ调速系统低速转矩稳态性能差的重要根源。

引用

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