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一种基于GPIB总线的TR组件测试系统的设计
被引:19
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
吴侠义
倪江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院电子学研究所
倪江
机构
:
[1]
中国科学院电子学研究所
来源
:
计算机测量与控制
|
2007年
/ 05期
关键词
:
TR组件;
GPIB总线;
测试系统;
TNT4882;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP311.52 [];
学科分类号
:
摘要
:
针对现代相控阵天线中的TR组件阵列测试中测试通路多、测试项目多的特点,并且要求对测试数据有强大的后处理功能的实际需求,设计了一种基于GPIB总线的TR组件自动化测试系统;文章详细描述了系统的功能和总体结构,以及GPIB接口电路的实现;该系统充分发挥了计算机强大的处理分析数据的功能,通过GPIB总线控制测试仪器来完成对TR组件阵列的测试和性能分析;实际应用证明,该测试系统可靠性高,使用方便,灵活,能够充分满足TR组件阵列的测试要求。
引用
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页码:582 / 584
页数:3
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基于LabWindows/CVI的虚拟仪器设计[M] 白鹏等编著;刘君华主编; 电子工业出版社 2003,
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