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氧化应激相关的细胞凋亡过程中基因表达改变
被引：29
作者：
王晓静
机构：
[1] 上海第二医科大学细胞生物学教研室
来源：
关键词：
活性氧;
细胞凋亡;
基因芯片;
D O I：
暂无
中图分类号：
R363 [病理生理学];
学科分类号：
100103 [病原生物学];
摘要：
细胞代谢异常产生大量活性氧 (ROS) ,超过抗氧化体系的还原能力 ,使细胞处于氧化应激状态 ,可能引起凋亡相关基因表达的改变 ,激活细胞凋亡程序。现综述近年来利用基因芯片技术显示的在氧化应激相关的细胞凋亡过程中发生表达水平改变的基因。
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