学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
校验位移传感器的新方法及其精度分析
被引:2
作者
:
钱友生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京建华电子仪器厂
钱友生
机构
:
[1]
北京建华电子仪器厂
来源
:
航天工艺
|
1999年
/ 03期
关键词
:
位移传感器,校验,精度分析;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP212 [发送器(变换器)、传感器];
学科分类号
:
140102
[集成电路设计与设计自动化]
;
摘要
:
为了节省开支,利用原有的万能工具显微镜(以下简称万工显)校验位移传感器线性度,采取了铁芯不动、外壳移动的办法,并用特制的V形铁来保证传感器的方向与万工显纵向工作台移动的方向平行一致,以使试验仪器的精度满足校验的要求,节省了资金。
引用
收藏
页数:3
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据