X射线安全检查技术综述

被引：88

作者：

王琪

陈志强

邬小平

王学武

张丽

康克军

机构：

[1] 清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,清华大学工程物理系,清华大学工程物理系北京,北京,北京,北京,北京,北京

来源：

CT理论与应用研究 | 2004年 / 01期

关键词：

计算机断层成像,安全检查; 物质识别; 双视角;

D O I：

暂无

中图分类号：

V328 [飞机飞行安全];

学科分类号：

082501 [飞行器设计];

摘要：

近年来,X射线安全检查技术受到航空安全等需要的驱使,得到迅速发展。本文对国内外现有的用X射线探测行李中的爆炸物和其他违禁品的几个主要方法做了一个回顾,阐述了用单能法、双能法、双视角、散射、计算机断层成像法和立体匹配分层成像法进行物质识别的基本原理,并对各种方法的优缺点作了比较和讨论,最后对X射线安全检查技术的未来发展前景进行了展望。

引用

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