导电微粒局部放电下SF6分解组分色谱信号的曲线拟合分峰

在采用气相色谱法对SF6分解产物组分进行分析时,由于其分解产物组分的色谱峰存在重叠情况,造成定量计算的困难。本文采用高斯函数和迭代曲线拟合的数值方法进行色谱峰分离,推导了曲线拟合迭代的公式,采取了由宽逐严的峰位确定方法,然后利用迭代公式对峰宽和峰强进行计算,确定最终的各峰峰强和峰宽,从而分离出重叠信号。通过对近完全重叠与部分重叠两种重叠情况的模拟、导电微粒(含金属突出物和自由导电微粒)模拟缺陷局部放电下的分析计算验证了算法的有效性,并可用于SF6分解产物与故障缺陷间相对含量对应关系定量分析的研究。