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CMOS图像传感器的硬复位电路研究
被引:12
作者
:
晋孝峰
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机构:
北京微电子技术研究所
晋孝峰
岳素格
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北京微电子技术研究所
岳素格
刘丽艳
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北京微电子技术研究所
刘丽艳
陈淼
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北京微电子技术研究所
陈淼
赵岳
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北京微电子技术研究所
赵岳
王春芳
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机构:
北京微电子技术研究所
王春芳
机构
:
[1]
北京微电子技术研究所
来源
:
电子学报
|
2014年
/ 42卷
/ 01期
关键词
:
CMOS图像传感器;
硬复位电路;
动态范围;
抗饱和;
图像滞后;
非线性;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP212 [发送器(变换器)、传感器];
学科分类号
:
080202 ;
摘要
:
像素复位电路是CMOS图像传感器的重要组成部分,其特性直接影响着图像的质量.本文对CMOS APS图像传感器的动态范围、抗饱和能力、图像滞后以及非线性等性能进行了分析,并讨论了通过复位电路改善CMOS图像传感器性能的方法.在本文中,设计了两种带有抗饱和电路的硬复位电路,一种是采用传统的交叉耦合结构实现电压转换,另一种是基于改进的锁存器结构并增加阈值补偿管来实现,两种方案各具特点,分别适用不同的应用要求.仿真结果表明,两种电路方案均能够使动态范围提高2~3dB,增强像素抗饱和能力,同时消除了图像滞后与弱光下的非线性.
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[4]
Review of CMOS image sensors[J] . M. Bigas,E. Cabruja,J. Forest,J. Salvi.Microelectronics Journal . 2005 (5)
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基于CMOS集成有源传感器的新型高能物理粒子轨迹追踪器
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