超细碳化硅中游离碳的测定

被引：1

作者：

陈名浩

沈汝美

艾星涛

邱瑞青

机构：

[1] 冶金部钢铁研究总院!北京

[2] 不详

来源：

分析化学 | 1996年 / 09期

关键词：

超细碳化硅; 游离碳; 电位滴定;

D O I：

暂无

中图分类号：

TQ174.1 [基础理论];

学科分类号：

摘要：

通过加热氧化并电位滴定产生的CO2，分析超细碳化硅粉中游离碳，对部分碳化硅和游离硅同时被氧化的干扰，提出了新的校正方法和计算式，测定精度RSD≤5．1％相对误差≤6．2％。

引用

收藏

页码：0 / 0+0 +0-0

页数：4

相关论文

共 1 条

[1]

Rossberg A,Otto K,Matthe P.cfi/Ber. DKG . 1992