氮化硅相变的高分辨率电镜研究

被引:8
作者
温树林
冯景伟
庄汉锐
李文兰
严东生
机构
[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所
关键词
相变; 高分辨率电镜; Si; 控制步骤; 状态热力学变化; 电子束辐射; 氮化硅陶瓷; 颗粒; 晶粒;
D O I
10.14062/j.issn.0454-5648.1984.03.012
中图分类号
学科分类号
摘要
使用高分辨率电子显微镜对以细粉α-Si3N4 作原料,热压氮化硅陶瓷过程中的相变问题进行了研究。研究结果指出:整个相变的四步过程中,α-Si3N4 溶解在硅酸盐液相中的一步是控制步骤。α-Si3N4溶解过程的高分辨率电子显微照片,显示了α-Si3N4 晶粒溶解的情形。本工作还揭示,溶解前的α-Si3N4 存在着大量的层错。由于大量缺陷的存在,降低了溶解过程的活化能。因此,在结构上说明了细粉α-Si3N4 原料具有活性,因而用它来制备氮化硅陶瓷材料具有优越性。
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页码:325 / 327+391 +391
页数:4
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共 2 条
[1]  
The α/β silicon nitride phase transformation[J] . D. R. Messier,F. L. Riley,R. J. Brook.Journal of Materials Science . 1978 (6)
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Hot-pressing and the α-β phase transformation in silicon nitride[J] . L. J. Bowen,R. J. Weston,T. G. Carruthers,R. J. Brook.Journal of Materials Science . 1978 (2)