适用于δ-相关解扩的扩频码检验方法

被引：5

作者：

龙德浩 ^{[1
]}

陈志清 ^{[2
]}

机构：

[1] 四川大学

[2] 成都大学

来源：

电讯技术 | 2012年 / 52卷 / 10期

关键词：

扩频码检验; Welch内积定理; 实用Welch内积定理-扩频码检验; δ-相关解扩;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN914.42 [扩频通信];

学科分类号：

摘要：

基于Welch内积定理(IC定理),导出了归一化零时延互相关函数或零时延内积的绝对最大值δ0的三条基本特性,从而把Welch内积定理演变成了适用于计算量较小、解扩增益较高、有峰值、无旁瓣的δ-相关解扩的扩频码检验方法,即"实用Welch内积定理-扩频码检验方法",为作者拟定的"δ/θ型基带相关检测/解扩方案"(电讯技术,2012,52(9):1438-1442)的工程应用奠定了扩频码检验与设计的理论基础。这两个检验方法与现存经典(含Welch)扩频码检验方法在参数、结构、判决方式等方面都不相同。

引用

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