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利用切线方向信息检测亚像素边缘
被引:12
作者
:
章毓晋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
清华大学电子工程系
章毓晋
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
傅倬
机构
:
[1]
清华大学电子工程系
来源
:
模式识别与人工智能
|
1997年
/ 10卷
/ 01期
关键词
:
机器视觉;
图像处理;
边缘检测;
亚像素;
性能分析;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP391.41 [];
学科分类号
:
080203 ;
摘要
:
本文介绍一种对图像中已知形状的目标进行亚像素量级边缘检测的新方法.与其它基于边缘法向信息的亚像素边缘检测方法不同,本方法利用了边缘切向的信息.文中介绍了方法的原理,并研究了目标尺寸、目标采样位置和目标朝向对该方法性能的影响.这一新方法已实际应用并与其它方法用真实图进行了比较,结果表明本方法在实用中能提供更为精确的亚像素边缘.
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页码:69 / 74
页数:6
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Detection of Intensity Changes with Sub-pixel Accuracy Using Laplacian-of-Gaussian Masks .2 HUERTAS A,MEDIONI G. IEEE Trans on PAMI . 1986
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