单粒子效应对卫星空间运行可靠性影响

被引：37

作者：

王长河

机构：

[1] 电子工业部第十三研究所

来源：

半导体情报 | 1998年 / 01期

关键词：

单粒子翻转，单粒子闭锁，失效机理;

D O I：

10.13250/j.cnki.wndz.1998.01.001

中图分类号：

V474,V417.3 [];

学科分类号：

082503 ;

摘要：

主要论述单粒子效应对卫星中微电子器件的辐射损伤机理。提出提高集成电路抗单粒子翻转和单粒子闭锁的技术路径。

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半导体情报, 1996, (04) :6-14

[2] 半导体器件及集成电路抗辐射研究进展 [J].

王长河 .

半导体情报, 1990, (05) :1-8+18

[3]

微电子器件应用可靠性技术.[M].庄栾琪主编;.电子工业出版社.1996,

[4]

半导体器件可靠性物理.[M].高光渤;李学信编著.科学出版社.1987,