干涉图数据处理的一种方法

被引：4

作者：

李全臣

夏亮

机构：

[1] 北京理工大学颜色科学与工程国家实验室

来源：

关键词：

干涉图,CCD探测器,图像卡;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274,TH744.3 [];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

介绍一种以计算机技术和光电技术相结合的干涉计量方法。该方法可将干涉条纹以Ｗｉｎｄｏｗｓ位图格式采集存入计算机，通过软件对干涉图形进行处理，给出被检波前或被检光学面的解析表达式，这是一种精确的定量分析方法。

引用

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