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晶体管非工作期失效机理及可靠性预计
被引:3
作者
:
杨家铿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子部五所
杨家铿
机构
:
[1]
电子部五所
来源
:
电子产品可靠性与环境试验
|
1994年
/ 01期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN32 [半导体三极管(晶体管)];
学科分类号
:
070208
[无线电物理]
;
摘要
:
本文较全面地分析了影响晶体管非工作期可靠性的主要因素及其失效机理。进而,在广泛收集现场与试验可靠性数据的基础上建立了我国晶体管在非工作状态下的失效率预计模型。经实践验证,表明该模型的预计效果良好。同时还提供了我国晶体管的贮存可靠性水平与贮存有效期,这一研究成果对军用装备的非工作期可靠性预计、设计、储备、更新以及预防性维修等方面都有深远的意义。
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页数:8
相关论文
共 1 条
[1]
晶体管基本失效率预计公式的建立
[J].
杨家铿
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所
杨家铿
;
莫郁薇
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所
莫郁薇
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陈学军
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所
陈学军
.
北京工业大学学报,
1992,
(01)
:38
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[1]
晶体管基本失效率预计公式的建立
[J].
杨家铿
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所
杨家铿
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莫郁薇
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所
莫郁薇
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陈学军
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0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所,中国电子产品可靠性与环境试验研究所
陈学军
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北京工业大学学报,
1992,
(01)
:38
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