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HP8510C非同轴系统TRL校准技术
被引:9
作者
:
陈国强
论文数:
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引用数:
0
h-index:
0
机构:
国防科技大学电子工程学院!湖南长沙
陈国强
李琦
论文数:
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机构:
国防科技大学电子工程学院!湖南长沙
李琦
刘金亮
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机构:
国防科技大学电子工程学院!湖南长沙
刘金亮
机构
:
[1]
国防科技大学电子工程学院!湖南长沙
来源
:
微波学报
|
1998年
/ 03期
关键词
:
HP8510C;
TRL校准;
非同轴系统;
[S]参数测量;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN06 [测试技术及设备];
学科分类号
:
080901 ;
摘要
:
文章介绍了HP8510C矢量网络分析仪的TRL校准原理和建立微波校准标准的方法,从而使同轴系统的HP8510C也能对非同轴系统(波导、微带、带状线等)微波网络参数进行精密测量。并具体在BJ100波导系统进行了[S]参数的精密测量。
引用
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页码:238 / 243
页数:6
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近代微波测量技术[M]. 电子工业出版社 , 董树义 编, 1995
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