直流局部放电测试技术在电容器老化判断中的应用

被引：15

作者：

陈勇

于成龙

何承基

机构：

[1] 中国工程物理研究院电子工程研究所,中国工程物理研究院电子工程研究所,中国工程物理研究院电子工程研究所绵阳,绵阳,绵阳

来源：

关键词：

局部放电; 电容器; 无损检测; 绝缘;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM53 [电容器];

学科分类号：

摘要：

本文在有较强环境干扰情况下通过对电容器进行一系列直流局部放电试验,比较不同工作寿命的同批电容器的局部放电信号的典型差异,初步得出不同工作寿命的电容器的直流局部放电最大放电量和放电次数有较明显的差异。

引用

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共 5 条

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