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离子束溅射沉积Ta2O5光学薄膜的实验研究
被引:9
作者
:
刘洪祥
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国科学院光电技术研究所
刘洪祥
熊胜明
论文数:
0
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0
机构:
中国科学院光电技术研究所
熊胜明
李凌辉
论文数:
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机构:
中国科学院光电技术研究所
李凌辉
张云洞
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0
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0
机构:
中国科学院光电技术研究所
张云洞
机构
:
[1]
中国科学院光电技术研究所
[2]
中国科学院光电技术研究所 四川成都
[3]
四川成都
来源
:
光电工程
|
2004年
/ 03期
关键词
:
离子束溅射;
光学薄膜;
离子辅助沉积;
光学特性;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O484.4 [薄膜的性质];
学科分类号
:
080501 ;
1406 ;
摘要
:
根据择优溅射的理论,在不同的通氧方式下,详细分析了离子辅助对离子束溅射沉积Ta2O5薄膜光学特性的影响。结果表明,在薄膜生长的过程中,由于氩离子的轰击作用,薄膜中的氧原子被优先溅射出来,造成了薄膜化学剂量比失调、吸收增加。但是,通过优化辅助离子源中氧气的比例,可获得合理化学剂量比、低损耗的Ta2O5薄膜。
引用
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页码:41 / 43+55 +55
页数:4
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