降低有损耦合微带线间串扰的方法分析

被引：6

作者：

黎淑兰

刘元安

唐碧华

机构：

[1] 北京邮电大学电子工程学院

来源：

电波科学学报 | 2006年 / 04期

关键词：

有损耦合微带线; 串扰; FDTD;

D O I：

10.13443/j.cjors.2006.04.007

中图分类号：

TN817 [微带、微带传输线];

学科分类号：

0810 ; 081001 ;

摘要：

为降低和控制有损耦合微带线间的串扰,在强信号线两边各插入了一列用金属填充的、顶端用微带连接的接地孔。利用FDTD方法对该结构进行模拟并利用FEM法进行了验证。模拟结果表明串扰衰减程度与基底介质的损耗、接地孔参数有关。

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页码：503 / 507

页数：5

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