双结型硅色敏器件的测试与分析

被引：5

作者：

王飚

陈炳若

机构：

[1] 武汉大学!武汉

来源：

半导体光电 | 1998年 / 02期

关键词：

单色光颜色探测; 双结型硅色敏器件; 色敏器件测量方法;

D O I：

10.16818/j.issn1001-5868.1998.02.016

中图分类号：

TN36 [半导体光电器件];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

测试发现双结型硅色敏器件的两个结的输出电流与测试方法有关，对此进行了分析，并给出了正确的测试方法。对色敏器件的制作工艺提出了若干改进意见。

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[1]

色度学[M]. 科学出版社 , 荆其诚等编, 1979