XRF法测定高异常化探样品中的铜、铅、锌、镍

被引：2

作者：

程泽 ^{[1
]}

谭玉娟 ^{[1
]}

刘晓光 ^{[1
]}

张芳蓉 ^{[1
]}

张艳春 ^{[1
]}

阿拉木斯 ^{[2
]}

机构：

[1] 内蒙古矿产实验研究所

[2] 内蒙古大学化学化工学院

来源：

分析仪器 | 2006年 / 01期

关键词：

X射线荧光光谱法; 化探样品; 铜; 铅; 锌; 镍;

D O I：

暂无

中图分类号：

P575 [矿物的鉴定及分析];

学科分类号：

070901 ;

摘要：

在用X射线荧光法(XRF)测定化探样品中Cu、Pb、Zn、Ni等元素时,对高异常化探样品,常规分析方法有时会产生错误的结果。本文提出一种新的方法:拓宽标准样品含量范围;对回归曲线做分段处理;镍的探测器改用正比计数器;不做重迭校正,只用经验系数法做基体校正。实验证明,新方法的分析结果较好,符合化探质量管理的要求。方法简单、快速,并已用于大批量生产。

引用

页码：29 / 31

页数：3