基于广义霍夫变换的芯片检测

被引:9
作者
张小军
胡福乔
机构
[1] 上海交通大学电子信息与电气工程学院
关键词
广义霍夫变化; 芯片检测; 物体识别;
D O I
暂无
中图分类号
TN407 [测试和检验];
学科分类号
摘要
传统的广义霍夫变换空间复杂度及时间复杂度都很高,不适用于实时的应用。针对该问题,提出一种基于广义霍夫变换的芯片检测算法,降低了计算复杂度。该算法的主要思想是将多尺度分析与广义霍夫变换相结合。将该算法应用到自动光学检测系统的芯片检测中,取得了较好的检测结果。
引用
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页数:4
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