红外焦平面阵列非均匀性校正研究

被引：6

作者：

陈治宣 ^{[1
]}

周晓东 ^{[2
]}

娄树理 ^{[2
]}

郭明 ^{[1
]}

机构：

[1] 海军航空工程学院研究生管理大队

[2] 海军航空工程学院控制工程系

来源：

关键词：

红外成像系统; 红外焦平面阵列; 非均匀性校正;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN215 [红外探测、红外探测器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

红外焦平面阵列的非均匀性严重影响了红外成像质量,因此必须对其进行非均匀性校正。在深入地分析了非均匀性的来源及其表现形式的基础上,对目前存在的几种非均匀性校正方法进行了详细的探讨和对比,并给出了研究建议。

引用

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