壳聚糖膜与Co(Ⅱ)、Ni(Ⅱ)、Cu(Ⅱ)复合物的IR光谱和XPS谱

被引：10

作者：

郝志峰

杨阳

余坚

张耀芳

陈广新

机构：

[1] 汕头大学中心实验室

[2] 大庆石油管理局宏伟热电厂

[3] 汕头大学中心实验室广东省汕头市大学路号

[4] 黑龙江省大庆市宏伟路号

[5] 广东省汕头市大学路号

来源：

光谱实验室 | 2003年 / 06期

关键词：

壳聚糖膜; 复合物; 红外光谱; X射线光电子能谱;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

将壳聚糖制成膜后浸泡在含有金属离子 Cu( )、Co( )、Ni( )的溶液中制备得到相应的复合物。根据 IR光谱中官能团特征频率的位移和 XPS谱中元素结合能的变化 ,表明 Co( )、Ni( )、Cu( )与壳聚糖膜的吸附机理包括物理作用和化学吸附 ,其中化学吸附是通过壳聚糖表面部分 - NH2 提供孤对电子和金属离子形成了配位键。

引用

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