基于灵敏度的模拟电路测试参数分析

被引:5
作者
雷勇
陈光
杜天军
机构
[1] 电子科技大学自动化学院CAT室
关键词
灵敏度分析; 故障诊断; 可测性参数;
D O I
暂无
中图分类号
TN711 [网络];
学科分类号
摘要
介绍了一种提取电路最佳可测性参数集以诊断电路故障的新方法。利用灵敏度法分析了电路中故障元件和可测性参数之间的关系,推导出由电路可测性参数表示的故障元件容差最大值和最小值的表示式,得到诊断故障元件的最佳可测性参数,最后利用数据优化算法得到电路故障诊断的最佳可测性参数集。利用所介绍方法分析了一个低通滤波器电路,得到诊断该电路故障的最佳参数集。由于只需较少的可测性参数即可完成电路的故障诊断,因此本方法不仅计算简单,而且可有效地缩短测试时间和降低测试成本。
引用
收藏
页码:13 / 15
页数:3
相关论文
共 1 条
  • [1] A singular-value decomposition approach for ambiguity group determination in analog circuits. Manetti S, Piccirilli M C. Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications . 2003