X-荧光α系数法测定稀土氧化物中15个稀土元素

采用粉末稀释直接压片,在PW1400顺序式X-荧光光谱仪上测定了 15个稀土元素。通过电子计算机采用干扰系数扣除严重的谱线干扰,应用α系数校正复杂的基体效应,取得满意的结果。本文研究重点是选择了最佳仪器测量条件;测量出元素间的干扰系数及校正了背景影响;比较了三种基体校正数学模型的效果。分析精度:当含量小于2％时,优于 5％;含量大于2％时,优于?2％。分析速度较文献[5]提高三倍。