2000年7月14日特大耀斑引起的电离层TEC突然增强现象

被引：1

作者：

万卫星

袁洪

刘立波

宁百齐

机构：

[1] 中国科学院武汉物理与数学研究所

[2] 中国科学院武汉物理与数学研究所武汉 430071

来源：

中国科学:数学 | 2001年 / S1期

关键词：

太阳耀斑爆发; TEC突然增强; TEC的GPS观测; Chapman电离理论;

D O I：

暂无

中图分类号：

P182.52 [];

学科分类号：

070401 ;

摘要：

利用GPS网观测研究太阳耀斑爆发引起的电离层电子浓度总含量的突然增强(SITEC)现象.首先,根据电离层的Chapman电离理论,分析得出耀斑爆发引起的TEC时间变化率与太阳耀斑的有效辐射通量成正比、与太阳天顶角的Chapman函数成反比的结论.为了验证Chapman电离理论的这一简单推论,利用2000年7月14日特大太阳耀斑爆发期间中国、东南亚及澳大利亚的GPS网观测的TEC资料,统计分析了TEC的时间变化率与天顶角的Chapman函数的倒数间的相关性,发现两者确有很好的正比关系,从而证明了Chapman电离理论的正确性与可用性.结果表明,将GPS的观测用于太阳耀斑爆发等引起的电离层突然骚扰的研究,可以发挥GPS观测精度高、空间范围大、时间连续性好等优点,从而定量地揭示出与太阳爆发相关的电离层扰动过程.对电离层中的空间天气的监测与研究具有重要意义.

引用

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