提高GTEM小室测量EMI噪声精度的研究

被引：6

作者：

赵阳 ^{[1
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戎融 ^{[1
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张宇环 ^{[1
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颜伟 ^{[1
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赵波 ^{[2
]}

王恩荣 ^{[1
]}

邱晓晖 ^{[3
]}

机构：

[1] 南京师范大学电气与自动化工程学院

[2] 江苏省计量科学研究院

[3] 毫米波国家重点实验室(东南大学)

来源：

中国电机工程学报 | 2012年 / 32卷 / 27期

关键词：

吉赫兹横电磁波小室; 辐射电磁干扰; 多项式模型; 方差; 高阶矩;

D O I：

10.13334/j.0258-8013.pcsee.2012.27.023

中图分类号：

TM937 [电磁场强度（信号强度）测量及仪表];

学科分类号：

摘要：

针对吉赫兹横电磁波(gigahertz transverse electromagnetic,GTEM)小室用于辐射电磁干扰(electromagnetic interference,EMI)测量精度不高的问题,提出一种GTEM小室测量EMI噪声的的校准方法,采用多项式模型提取辐射噪声,利用方差对该模型的计算误差进行补偿,并基于高阶矩分析校准后的GTEM小室和3 m电波暗室测量辐射电场值分布的相似性。实验结果表明,采用该文所提方法可显著提高GTEM小室的测量精度,验证了方法的有效性。

引用

页码：169 / 176+198 +198

页数：9

共 8 条

[1] 基于LabVIEW的多功能GTEM小室软件设计 [J].