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下一代自动测试系统体系结构与关键技术
被引:86
作者
:
于劲松
论文数:
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引用数:
0
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0
机构:
北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
于劲松
李行善
论文数:
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0
机构:
北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
李行善
机构
:
[1]
北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
[2]
北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院 北京
[3]
北京
来源
:
计算机测量与控制
|
2005年
/ 01期
关键词
:
自动测试系统;
体系结构;
关键技术;
D O I
:
10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2005.01.001
中图分类号
:
TP274 [数据处理、数据处理系统];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
080402 ;
081002 ;
0835 ;
摘要
:
在总结自动测试系统发展现状的基础上,以目前国际上正在开展的下一代自动测试系统的研究为背景,分析了下一代自动测试系统的体系结构与标准,重点讨论了下一代自动测试系统开发所涉及的并行测试技术、合成仪器技术、仪器可互换技术、TPS可移植与互操作技术、智能测试诊断技术及测试诊断信息的表达等关键技术,希望以此能促进我国下一代通用自动测试系统的研制与开发。
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IEEE P1505 receiver fixture interface (RFI) system standardupdate 6.0 .2 Stora M J. IEEE AUTOTESTCON . 1999
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