下一代自动测试系统体系结构与关键技术

被引:86
作者
于劲松
李行善
机构
[1] 北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院
[2] 北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院 北京
[3] 北京
关键词
自动测试系统; 体系结构; 关键技术;
D O I
10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2005.01.001
中图分类号
TP274 [数据处理、数据处理系统];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;
摘要
在总结自动测试系统发展现状的基础上,以目前国际上正在开展的下一代自动测试系统的研究为背景,分析了下一代自动测试系统的体系结构与标准,重点讨论了下一代自动测试系统开发所涉及的并行测试技术、合成仪器技术、仪器可互换技术、TPS可移植与互操作技术、智能测试诊断技术及测试诊断信息的表达等关键技术,希望以此能促进我国下一代通用自动测试系统的研制与开发。
引用
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IEEE P1505 receiver fixture interface (RFI) system standardupdate 6.0 .2 Stora M J. IEEE AUTOTESTCON . 1999