基于改进Radon变换的芯片几何特征检测

被引：6

作者：

孔华锋 ^{[1
]}

鲁宏伟 ^{[1
]}

胡东红 ^{[2
]}

机构：

[1] 华中科技大学计算机科学与技术学院

[2] 湖北大学物理学与电子技术学院

来源：

计算机工程 | 2008年 / 10期

关键词：

Radon变换; 直线检测; 图像处理; 模式识别;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

在分析芯片几何特征检测的基础上,根据Radon变换的基本思想,提出一种用于芯片几何特征检测的改进Radon变换算法,对该算法在矩形芯片边界直线的检测过程中确定边界直线、剔除干扰和加快速度的具体应用进行了研究。试验结果表明,与传统算法相比,该算法可以有效提高识别效率30%,同时具有鲁棒性好及检测结果准确等特点。

引用

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