模拟电路单一差错与多重差错的双线性求值判断法

本文阐明了模拟电路双线性偏差映射理论,提出了单一差错与多重差错的求值判断法。不论差错元件是短路、开路或任意参数偏离,可用线性方法从外部若干个测量值确定其差错位置并计算出其差错值。文末用了一个实例在侦错效果上与别的方法作了比较。