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- [3] 高等传热学[M]. 上海交通大学出版社 , 杨强生, 1996
红外热成像无损检测缺陷的一种新方法
被引：14
作者：
梅林
王裕文
薛锦
机构：
[1] 西安交通大学机械工程学院!陕西
[2] 西安
[3] 不详
来源：
关键词：
红外热成像;
无损检测;
数学模型;
有限元;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN21 [红外技术及仪器];
学科分类号：
摘要：
通过脉冲加热阶段的红外无损检测一维理论模型 ,提出了一种评估缺陷深度信息的新算法 ,并给出了有限元模拟检测结果 ,分析了缺陷大小及脉冲加热时间对检测结果的影响、分析表明 ,该方法具有较高的检测精度
引用
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