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龙芯1号处理器的故障注入方法与软错误敏感性分析
被引：31
作者：
黄海林
唐志敏
许彤
机构：
[1] 中国科学院计算技术研究所系统结构研究室
来源：
关键词：
容错处理器;
可靠性设计;
故障注入;
软错误;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP332 [运算器和控制器（CPU）];
学科分类号：
081201 ;
摘要：
在纳米级制造工艺下以及在航天等特殊应用场合中,可靠性将是处理器设计中的一个重要考虑因素.以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了处理器可靠性设计中的故障注入方法,并提出了一种同时运行两个处理器RTL模型的故障注入与分析方法,可以实现连续快速的处理器仿真故障注入.在此基础上,进一步分析了龙芯1号处理器的软错误敏感性,通过快速注入大约30万个软错误,保证了分析结果具有较好的统计意义,可以有效指导后续的容错与可靠性设计.
引用
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页码：1820 / 1827
页数：8
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